簡(jiǎn)要描述：提供原子力顯微鏡定制服務(wù)。葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop是一個(gè)與倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)合的用于生命科學(xué)和生物材料樣品研究顯微鏡。 是一個(gè)針式掃描的原子力顯微鏡。它包括電子控制器，光杠桿光學(xué)探測(cè)，光學(xué)顯微鏡，用于查看針尖和樣品的位置，獲取圖像結(jié)果和后處理的軟件。該系統(tǒng)具有在原子力顯微鏡XY軸上相對(duì)于倒置顯微鏡來(lái)定位樣品。樣品臺(tái)適用于培養(yǎng)皿，載玻片和標(biāo)準(zhǔn)AFM樣品臺(tái).
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-01-17訪 問(wèn) 量：6159產(chǎn)品目錄
| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類(lèi) | 原子力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,能源,電子/電池,制藥/生物制藥 |
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop工作模式
1. 標(biāo)準(zhǔn)工作模式：
1.1 輕敲模式(Vibration mode)
1.2 接觸模式(Contact mode)
1.3 相位成像模式(Phase imaging)
1.4 橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5 力曲線測(cè)試（Force curve）可測(cè)楊氏模量
1.6 納米操控 （Nanomanipulation）
1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）
1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）
1.9 摩擦力測(cè)試 （Friction Mode）
2. 可選工作模式：
2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）
2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）
2.3 導(dǎo)電顯微鏡模式（C-AFM mode）
2.4 液相模式 （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是專(zhuān)門(mén)從事設(shè)計(jì)和制造原子力顯微鏡的專(zhuān)業(yè)化公司 。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗(yàn)的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop技術(shù)參數(shù)
掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方向范圍：17 μm，7 μm
XY方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.01 nm
Z方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.003 nm
Z方向測(cè)量噪音水平：0.15 nm
樣品尺寸：直徑25mm
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