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afm原子力顯微鏡探針參數：針尖：10nm 力學常數：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-235um） 寬度：38 um （33-43um） 厚度：7 um （6-8um） 涂層：懸臂探測器側有鋁反射涂層，30 nm 厚

spm掃描探針技術參數：針尖：10nm 力學常數：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-235um） 寬度：38 um （33-43um） 厚度：7 um （6-8um）

spm掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

納米掃描探針顯微鏡可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

低溫掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。